Hallo! Tracked shipping to Austria with Delivery Duty Paid for just €3.99  

Ship to
Austria
0
  • argentina
  • chile
  • colombia
  • españa
  • méxico
  • perú
  • estados unidos
  • internacional

Select your country

Americas

Europe

Rest of the world

portada Instrumente zur Überwachung der Strahlung im Weltraum (in German)
Type
Physical Book
Language
German
Pages
52
Format
Paperback
Dimensions
22.9x15.2x0.3 cm
Weight
0.09 kg.
ISBN13
9786205308936

Instrumente zur Überwachung der Strahlung im Weltraum (in German)

Keyur Mahant (Author) · Hiren Mewada (Author) · Amit Patel (Author) · Verlag Unser Wissen · Paperback

Instrumente zur Überwachung der Strahlung im Weltraum (in German) - Mahant, Keyur ; Mewada, Hiren ; Patel, Amit

New Book Imported to Austria
Delivery: 11 Sep - 15 Sep Shipping: 13 to 14 business days.
50,79 €
Import costs and 10% VAT included in the price ✅
50,79 €

Synopsis "Instrumente zur Überwachung der Strahlung im Weltraum (in German)"

Die geladenen Teilchen können nachteilige Auswirkungen auf Raumfahrzeuge und elektronische Komponenten haben. Die Strahlungseffekte hochenergetischer Teilchen führen zur Aufladung der Oberfläche von Raumfahrzeugen, zur Beeinträchtigung oder zum dauerhaften Versagen elektronischer Komponenten und Subsysteme durch Einzeleffekte, Verlagerungsschäden und Auswirkungen ionisierender Dosen im Raumfahrzeug. Die Auswirkungen von ioneninduzierten Ladungstransienten können in drei grundlegende Kategorien unterteilt werden: Gesamtionisierungsdosis (TID), linearer Energietransfer (LET) und Einzelereignisstörung (SEU).TID-Effekt ist die Akkumulation von ionisierender Energie, die über einen langen Zeitraum auf Halbleitermaterialien einwirkt. TID tritt vor allem durch Elektronen und Protonen auf, was zum Ausfall des Geräts führen kann. Der gesamte Energieverlust oder -transfer in das Material pro Einheitsdistanz wird als LET bezeichnet. Elektronische Geräte können durch den Durchgang von energiereichen Elektronen, Protonen oder schwereren Ionen gestört werden, die den Zustand eines Schaltkreises verändern und "Einzeleffekte" erzeugen können. SEU und Multiple-Bit-Upset (MBU), die den logischen Zustand interner Knoten des Schaltkreises verändern. Sie können durch verschiedene elektrische Operationen zurückgesetzt werden. Diese Fehler werden als weiche Fehler bezeichnet, die wiederherstellbar sind.

Customers reviews

Frequently Asked Questions about the Book

All books in our catalog are Original.
The book is written in German.
The binding of this edition is Paperback.

Questions and Answers about the Book

Do you have a question about the book? Login to be able to add your own question.

Opinions about Bookdelivery

More customer reviews