Name: Grundlagen und Anwendungen der Rasterkraftmikroskopie (in German)
Price: 52.75 EUR
Availability: InStock
Author: Solanki, Vanarajsinh ; Dasadiya, Abhay ; Mishra, Pramita
ISBN: 9786204698069

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portada Grundlagen und Anwendungen der Rasterkraftmikroskopie (in German)

Grundlagen und Anwendungen der Rasterkraftmikroskopie (in German)

Type

Physical Book

Author

Publisher

Language

German

Pages

Format

Paperback

Dimensions

22.9 x 15.2 x 0.3 cm

Weight

0.09 kg.

ISBN13

9786204698069

Synopsis "Grundlagen und Anwendungen der Rasterkraftmikroskopie (in German)"

Dieses Buch konzentriert sich auf das Funktionsprinzip des AFM, seine verschiedenen Modi (d.h. Kontakt-, berührungslose und Klopfmodi), die Analyse einiger AFM-Ergebnisse und einige Anwendungen. Dieses Buch unterstreicht auch die Eigenschaften des AFM als vielseitiges und nützliches morphologisches Werkzeug zum Scannen einer gro en Vielfalt von Oberflächen mit einer planaren Auflösung, die von Nanometerskalen bis hin zu atomaren Skalen reicht. Wir hoffen, dass dieses Buch für Forscher und Studenten hilfreich ist, um das Grundkonzept des AFM zu verstehen und es für verschiedene Arten von Proben einzusetzen.

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